USB2.0の性能を10倍以上の5Gbpsに高めたSuperSpeed USBの正式仕様を先々月公開!!

次世代規格USB3.0概要最新動向

USB2.0と互換性があり、携帯機器にも搭載可能な低消力化を実現する次世代USB3.0。対応製品の開発が活発化!!

■日時 1月29日(木)   ■会場 メディアボックス会議室   ■受講料 1名につき 39,000円

9:40〜16:10    東京都新宿区西新宿1-9-18      (消費税込み、テキスト代含む) 昼食弁当付(サービス)

USB3.0の規格概要と物理層評価及び今後の展開

アジレント・テクノロジー

アプリケーション・エンジニアリング部

 

岡ア 淳起

 

1月29日 9:40〜10:40

  1.USB3.0の市場概要

       USB2.0までの流れとUSB3.0への期待

  2.USB3.0の規格概要

       USB3.0の物理層に関する規格概要

  3.USB3.0の物理層評価試験と製品デモンストレーション

       (1) USB3.0の物理層の評価方法

       (2) 弊社からの測定ソリューション

  4.USB3.0の今後のスケジュール

       (1) 市場全体の流れ

       (2) コンプライアンス試験に関するスケジュール

PLDA社におけるUSB3.0対応IPコア/評価ボードの概要・開発動向と最新事例及び今後の展開

PLDA社

Marketing and sales

Director

 

Martin Gallezot

 

1月29日 10:50〜12:50

  ASICとFPGAユーザ向けUSB3.0 IP、評価ボード、開発キットの最新動向

  1.FPGAザイリンクス社対応USB3.0 IPの開発動向

  2.少数のプロジェクトに最適なUSB3.0評価ボード

  3.FULL機能のUSB3.0のIPが組み込まれたUSB3.0開発キット

  4.FPGA評価後にASIC及びStructured ASIC用での量産

  5.FPGA用USB3.0開発キットの詳細

  6.評価ボードを使用したデモンストレーション

  7.東京エレクトロンデバイスにて、XILINX評価ボード及びUSB3.0の取り組み

Ellisys社USB3.0対応アナライザ・ジェネレータの活用方法と最新事例及び今後の展開

ガイロジック

技術部

部長

 

後藤 卓

 

1月29日 13:40〜16:10

  1.Ellisys社概要

       (1) 製品ラインアップ

       (2) マーケットポジション

  2.USBアナライザの利用方法

       (1) USB3.0プロトコルの表示例

       (2) インスタントタイミングによる性能評価

       (3) デバッグに便利な機能

  3.ジェネレータの利用方法

       (1) パケット生成手順

       (2) スクリプトデバッグ機能

  4.デモンストレーション

       ジェネレータとアナライザを用いたデモ

 

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